WDX 400E波長色散熒光光譜儀

WDX 400E 突破點(diǎn)一：
對(duì)各種樣品進(jìn)行快速定性分析





WDX 400E 突破點(diǎn)二：在低X光管功率下對(duì)樣品可進(jìn)行全元素同時(shí)測(cè)試

WDX400E僅用400W的光管功率，解決了大功率掃描道需要3000W以上光管功率解決的問題。

定性分析：1.由于掃描道定性分析時(shí)需連續(xù)變換晶體與入射θ角度與2θ角度，逐一對(duì)樣品中的元素掃描。使得樣品定性分析時(shí)間常常超過10分鐘；

2.而能散定性分析是用全譜直讀的方式，一般只需數(shù)秒鐘即可生成定性結(jié)果。

定量分析：1.由于掃描道設(shè)備對(duì)元素進(jìn)行逐一測(cè)試，為減少樣品測(cè)試時(shí)間，必須采用大功率X光管提高激發(fā)率，保證測(cè)量精度，有些樣品需30~40分鐘；

2.而WDX400E所有元素同時(shí)測(cè)量，多個(gè)元素都有足夠的測(cè)量時(shí)間，因此使用小功率X光管。

WDX 400E 突破點(diǎn)三：同時(shí)對(duì)幾十種元素進(jìn)行定量分析，解決固定道設(shè)備測(cè)試元素少問題

能散探測(cè)器一次可測(cè)量幾十種元素，再加上波散固定道，大大增加了測(cè)試元素量，同時(shí)其測(cè)試效率大大超過大功率掃描型波長色散設(shè)備。分析能力超過大功率掃描型波長色散，操作更加簡(jiǎn)便。

WDX 400E 突破點(diǎn)四：采用波散與能散各自優(yōu)點(diǎn)，對(duì)輕重元素分開測(cè)試，提高測(cè)試精度與效率

A.能散的主要優(yōu)勢(shì)：1.全譜直讀，樣品定性、定量速度非?？?；2.SDD探測(cè)器探測(cè)效率高、分辨率好；3.同時(shí)可測(cè)試幾十種元素；4.對(duì)中重元素探測(cè)靈敏度高。

B.波散的主要優(yōu)勢(shì)：1.光學(xué)分光原理，元素間分辨能力更強(qiáng)，尤其對(duì)輕元素的糞便，避免高次線的干擾；2.由于輕元素?zé)晒猱a(chǎn)額低，可以通過增加功率，改變光路結(jié)果等單獨(dú)增加輕元素的檢測(cè)效率；3.在輕元素測(cè)試上更有優(yōu)勢(shì)。

因此WDX400E在輕元素上采用波譜，重元素采用能譜。

WDX 400E 突破點(diǎn)五：*的能散二次準(zhǔn)直器設(shè)計(jì)，大大降低能散測(cè)試背景，提高樣品檢出限與測(cè)試精度

400W光管在普通能散設(shè)備上是無法應(yīng)用的，但經(jīng)過*的二次準(zhǔn)直器設(shè)計(jì)，可以在保證高探測(cè)效率的情況下，降低散射背景，大幅度提高探測(cè)的信噪比，儀器測(cè)試性能進(jìn)一步提升。

與順序型大功率儀器相比較有如下優(yōu)點(diǎn)：

a、在較小功率和測(cè)定時(shí)間基本相當(dāng)?shù)那闆r下即可達(dá)到足夠的分析精度。

b、延長X光管使用壽命。

c、減少高壓電源故障。

d、降低整機(jī)維修成本。

e、采用固定通道，無測(cè)角儀磨損，以及測(cè)試機(jī)械移動(dòng)誤差問題。

f、增加能譜裝置，其性能指標(biāo)堪比大功率掃描型儀器。