產(chǎn)品介紹

手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有高效、便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。

工作原理

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

產(chǎn)品特點

——現(xiàn)場檢測，快速無損，無需送抵實驗室，大大提高效率

——分析速度較臺式光譜儀快很多，僅幾秒鐘就可顯示分析結(jié)果

——體積小，重量輕，攜帶方便

性能優(yōu)勢

*更便捷的操作

1、重量輕，體積小，人體工程學(xué)把手設(shè)計，配有儀器套，更易抓握，野外使用更方便。

2、360 °可旋轉(zhuǎn)5寸高清屏，支持多點操控，任何光線下都能清晰顯示。

3、密封式一體設(shè)計，具備防水防塵功能，可在惡劣環(huán)境下連續(xù)使用。

4、無需制備樣品，可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試，也能使用測試座對樣品進行較長時間的精細測試。

*更的性能

1、無損快速檢測，對準即測，一秒可報結(jié)果和合號。性能堪比臺式機，檢測效果又快又準。

2、同時檢測 鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、鍺、鋯、鈮、鉬、釕、銠、 鈀、銀、銦、錫、銻、鉿、 鉭、 鎢 、錸、鉑、金、鉛、 鉍、鎂、鋁、硅、磷、硫 元素，并且可以根據(jù)客戶需求進行定制再增加元素。

3、超近光路設(shè)計，儀器無需充氦氣，可檢測從Mg開始的輕元素，*可以滿足特定用戶的需求。

*更強勁的電力

1、選配超大27000mAH鋰電池，續(xù)航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器，保證電力供應(yīng)。

2、內(nèi)置記憶電池，換電池不斷電。

*更的配置

微型光管、Fast-SDD探測器（世界上的探測器）、微型數(shù)字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術(shù)的引入，使其具有臺式相近的測試精度。

采用超高主頻及大內(nèi)存，超大存儲空間，可海量存儲數(shù)據(jù)。全新自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，保證每秒有效采譜計數(shù)可達500k cps。

準直濾波系統(tǒng)，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下的檢測需求。

內(nèi)置500W像素高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測量更加精準。

*更安全的防護

1、智能三色預(yù)警系統(tǒng)：LED三色長燈帶設(shè)計，360度*顯示。通電開機時綠燈亮，測試紅燈閃爍，設(shè)備故障黃色燈閃爍，儀器狀態(tài)，一目了然。

2、三重安全防護功能：

a: 自動感應(yīng)，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏。

b: 采用加厚防護測試壁，有效防止散射。

c: 配送防護安全罩，防周邊輕基體散射。

3、安全聯(lián)動鎖裝置，當(dāng)軟件無法控制關(guān)閉，輕輕一按，時間保護您的安全，守護后關(guān)卡。

*更智能的軟件

1、EXPLORER 5000 合金分析儀配有專門針對合金行業(yè)的專業(yè)應(yīng)用軟件，具有智能化、高靈敏度、測試時間短、操作簡易等特點。

2、全新的智能軟件，一鍵智能操作，采用雙模設(shè)計（用戶模式和專家模式）。用戶模式一鍵識別樣品材質(zhì)；專家模式可進行增加元素，增加特定曲線等深入分析操作。

3、內(nèi)置強度校正方法，校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。