更新時間:2020-04-13
天瑞thick800x熒光測金屬厚度設(shè)備是天瑞公司專門研發(fā)的能散型鍍層厚度測試儀,天瑞新科技與智慧的結(jié)晶,為新一代鍍層厚度分析利器,是電鍍業(yè)、實驗室、科研機(jī)構(gòu)等*的檢測和實驗助手。
x熒光測金屬厚度設(shè)備產(chǎn)品介紹
Thick800x熒光測金屬厚度設(shè)備是天瑞公司專門研發(fā)的能散型鍍層厚度測試儀,天瑞新科技與智慧的結(jié)晶,為新一代鍍層厚度分析利器,是電鍍業(yè)、實驗室、科研機(jī)構(gòu)等*的檢測和實驗助手。
可測量各類鍍層的厚度,度達(dá)到0.01μm,同時鍍層分析能力多達(dá)5層,能分析單鍍層、雙鍍層、合金鍍層等多種鍍層類型。整臺機(jī)器具有精度高、穩(wěn)定性好、測量范圍寬、非破壞、非接觸、多層合金測量等特點(diǎn)。
x熒光測金屬厚度設(shè)備技術(shù)指標(biāo)
型號:Thick 800
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
x熒光測金屬厚度設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)
x熒光測金屬厚度設(shè)備性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動平臺可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
深圳市天瑞儀器有限公司
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