10年前，塑料件鍍層厚度測(cè)試儀基本被國(guó)外廠家（德國(guó)費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做光譜儀，是一家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測(cè)方面，*打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A塑料件鍍層厚度測(cè)試儀內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器，在測(cè)試精度可以與進(jìn)口設(shè)備PK過程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備（費(fèi)希爾，精工，牛津等）PK過程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測(cè)試快捷，可以測(cè)試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。

天瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：

1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)，微小測(cè)試點(diǎn)更精確；7.塑料件鍍層厚度測(cè)試儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。 

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測(cè)試實(shí)例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A塑料件鍍層厚度測(cè)試儀對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行精確定位測(cè)試，其測(cè)試位置如下圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖 

銅鍍鎳件測(cè)試值

結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A塑料件鍍層厚度測(cè)試儀對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。

廠家介紹
 

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線測(cè)厚儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，EDX1800B,ROHS檢測(cè)儀，首先ROHS檢測(cè)儀廠家，ICP光譜分析儀，液相色譜儀，EDX1800E,ROHS2.0新增4項(xiàng)分析儀，EDX2800,手持式礦石分析儀，雙酚A檢測(cè)儀，X射線熒光光譜儀，大米重金屬快速檢測(cè)儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀，ROHS2.0檢測(cè)儀，EDX1800BH,電感耦合等離子體光譜儀，ICP等離子光譜儀，EDX1800BS,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS）,EDX1800, ROHS儀器，手持式合金分析儀等分析儀器，涉及的儀器設(shè)備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。

天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù)，是國(guó)內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)與安全（空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測(cè)等）、礦產(chǎn)與資源（地質(zhì)、采礦）、商品檢驗(yàn)甚至人體微量元素的檢驗(yàn)等眾多領(lǐng)域。