更新時(shí)間:2020-04-13
X射線鍍層膜厚測(cè)量?jī)x是一種功能強(qiáng)大的金屬鍍層測(cè)量?jī)x器,同時(shí)可以測(cè)試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測(cè)5層,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析,是線路板...
產(chǎn)品介紹
X射線鍍層膜厚測(cè)量?jī)x是一種功能強(qiáng)大的金屬鍍層測(cè)量?jī)x器,同時(shí)可以測(cè)試鍍金,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍銅,鍍銠,鍍鈀等鍍層厚度,多可以測(cè)5層,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析,是線路板,五金電鍍,首飾,連接器,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度.
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
部分產(chǎn)品
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廠家優(yōu)勢(shì)
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