產(chǎn)品介紹

CCD全譜直讀光譜儀OES8000采用CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000CCD全譜直讀光譜儀是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合號(hào)齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素

基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。

配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。

專業(yè)的測(cè)試方案

*測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。

測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測(cè)試需求。

分析程序由原廠采用、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

核心部件

光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲

光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造，光纖——美國(guó)Agilent制造

的光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

技術(shù)參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)

帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑350mm

波長(zhǎng)范圍140 – 800nm

像素分辨率10pm

恒溫34℃±0.5℃

特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

2.凹面光柵

刻線密度3600l/mm

一級(jí)光譜線色散率：1.2 nm/mm

3.檢測(cè)器

高性能線陣CCD

4.分析時(shí)間

依樣品種類而不同，一般少于30秒

5.激發(fā)光源

全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

頻率100-1000Hz

電流1-80A

6.激發(fā)臺(tái)

4mm樣品臺(tái)分析間隙

噴射電極技術(shù)

無(wú)待機(jī)流量，低氬氣消耗

7.尺寸和重量

高450mm 長(zhǎng)750 mm 寬800 mm

85 kg

8.功率

功率1500W

待機(jī)功率70W

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對(duì)濕度：≤70%

電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

輔助設(shè)備

高純氬氣——純度99.999%以上

交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA

光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品

小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品

空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率