膜厚測(cè)試儀是一種非接觸式測(cè)量?jī)x器,一般會(huì)運(yùn)用在生產(chǎn)廠商大量生產(chǎn)產(chǎn)品的過(guò)程,由于誤差經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品全部報(bào)廢,這時(shí)候就需要運(yùn)用膜厚測(cè)試儀來(lái)介入到生產(chǎn)環(huán)境,避免這種情況的發(fā)生。由于是光學(xué)測(cè)量,在測(cè)量時(shí)候無(wú)須擔(dān)心破壞樣品,讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。
膜厚測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn):
1.非接觸式測(cè)量
膜厚測(cè)試儀采用的原理是通過(guò)光的反射原理對(duì)膜層厚度進(jìn)行測(cè)量,屬于非接觸式測(cè)量方法,不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷,能夠保證樣品的完整性。
2.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣
可以測(cè)得物體的膜厚度和n,k數(shù)據(jù),這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。
3.測(cè)量快速
膜厚測(cè)試儀的測(cè)量過(guò)程非??焖?,因?yàn)樵撛O(shè)備采用了先進(jìn)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),能夠程度的提升測(cè)量效率,相比于其他類型膜厚測(cè)量設(shè)備來(lái)說(shuō)顯得非常輕巧方便。
4.適用范圍廣
膜厚測(cè)試儀的適用范圍非常廣泛,從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn),再到大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)研究所,都可以看到它的身影,由此可見(jiàn)它的使用范圍極其廣泛,能夠作業(yè)的場(chǎng)合也變得更加多樣化。
膜厚測(cè)試儀主要應(yīng)用在:
半導(dǎo)體行業(yè)如:光刻膠的厚度測(cè)量;加工膜層的厚度測(cè)量,介電層的厚度測(cè)量等。
液晶顯示器行業(yè)如:OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測(cè)量,玻璃上面涂層的厚度測(cè)量等
光學(xué)鍍層行業(yè)如:硬涂層,抗反射層等涂層厚度測(cè)量。
生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如:聚對(duì)二甲苯,醫(yī)療器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測(cè)量。
膜厚測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域極其廣闊,適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實(shí)驗(yàn)室等,提供低至納米級(jí)別的薄膜厚度測(cè)量可能。
以上就是今天為大家?guī)?lái)關(guān)于膜厚測(cè)試儀的相關(guān)科普介紹,供大家探討和參考!